在電子產(chǎn)品從研發(fā)構(gòu)思到量產(chǎn)落地、最終推向市場(chǎng)的完整鏈路里，EMC（電磁兼容）測(cè)試是一道無(wú)法跨越的關(guān)鍵關(guān)卡。它直接決定著產(chǎn)品在紛繁復(fù)雜的電磁環(huán)境中，能否保持穩(wěn)定運(yùn)行、不干擾周邊設(shè)備正常工作，更是順利通過國(guó)內(nèi)CCC、歐盟CE、美國(guó)FCC 等強(qiáng)制性認(rèn)證的核心前提。

電磁兼容性測(cè)試，英文全稱為Electro Magnetic Compatibility，簡(jiǎn)稱EMC測(cè)試，核心是衡量設(shè)備或系統(tǒng)在自身電磁環(huán)境中合規(guī)運(yùn)行的能力，同時(shí)確保不會(huì)對(duì)環(huán)境內(nèi)其他設(shè)備產(chǎn)生難以承受的電磁干擾。在電磁兼容領(lǐng)域，其涉及的幅度與頻率范圍跨度極大，圖形表達(dá)中對(duì)數(shù)坐標(biāo)更適配呈現(xiàn)，因此描述時(shí)通常采用分貝（dB）作為單位，例如 10mV 對(duì)應(yīng) 20dBmV。從測(cè)試維度劃分，EMC主要包含EMI與EMS兩大核心板塊。

EMI電磁干擾

EMI，即 Electromagnetic Interference（電磁干擾），指設(shè)備或裝置在運(yùn)行過程中，產(chǎn)生的不良電磁信號(hào)會(huì)與電子元件發(fā)生相互作用，進(jìn)而引發(fā)干擾現(xiàn)象。這是電子產(chǎn)品工作時(shí)，對(duì)外部環(huán)境造成的電磁干擾表現(xiàn)，具體分為空間輻射類的無(wú)線干擾，以及通過有線傳輸產(chǎn)生的傳導(dǎo)干擾兩類。EMI測(cè)試的核心目標(biāo)，就是讓產(chǎn)品在工作狀態(tài)下，對(duì)周邊環(huán)境的電磁干擾降到最低。

其核心測(cè)試項(xiàng)目涵蓋：RE（輻射發(fā)射測(cè)試）、CE（傳導(dǎo)干擾測(cè)試）、Harmonic（諧波測(cè)試）、Flicker（閃爍測(cè)試）等。

EMS電磁敏感度

EMS，即Electromagnetic Susceptibility（電磁敏感度），反映的是電子產(chǎn)品在特定電磁環(huán)境中工作時(shí)，自身受外界電磁干擾的敏感程度。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，就是衡量電磁能量導(dǎo)致產(chǎn)品性能下降的難易程度，EMS測(cè)試的核心是讓產(chǎn)品在復(fù)雜電磁環(huán)境中，盡可能少受外界干擾影響。

主要測(cè)試項(xiàng)目包括：ESD（靜電放電測(cè)試）、EFT（瞬態(tài)脈沖干擾測(cè)試）、DIP（電壓跌落測(cè)試）、CS（傳導(dǎo)抗干擾測(cè)試）、RS（輻射抗干擾測(cè)試）、Surge（浪涌雷擊測(cè)試）、PSMS（工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試）等。

EMC測(cè)試的開展，離不開規(guī)范的測(cè)試方法、專業(yè)的測(cè)量?jī)x器與適配的試驗(yàn)場(chǎng)所。測(cè)試方法以各類行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為核心依據(jù)，測(cè)量?jī)x器基于頻域技術(shù)搭建，而試驗(yàn)場(chǎng)地則是開展EMC測(cè)試的先決條件，更是衡量EMC測(cè)試專業(yè)水平的關(guān)鍵要素。其中，電磁輻射發(fā)射、輻射接收與輻射敏感度的測(cè)試，對(duì)場(chǎng)地的電磁屏蔽性能、環(huán)境穩(wěn)定性要求最為嚴(yán)苛。

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